產(chǎn)品中心
一款高精度表面形貌測(cè)量?jī)x器,通過(guò)接觸式探針技術(shù)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)垂直分辨率的臺(tái)階高度、粗糙度和三維形貌分析,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜及材料科學(xué)研究領(lǐng)域。
適合在過(guò)程控制現(xiàn)場(chǎng)或中心實(shí)驗(yàn)室,分析各種樣品中碳(C)到镅(Am)之間元素的含量。憑借獨(dú)特的HighSense探測(cè)器,分析研發(fā)部門(mén)的復(fù)雜樣品也不在話(huà)下